Article : [SHEET492]
Titre : D. POGANY, N. SELIGER, M. LITZENBERGER, H. GOSSNER, M. STECHER, T. MULLER-LYNCH, W. WERNER, E. GORNIK, Damage analysis in smart-power technology electrostatic discharge (ESD) protection devices, Microelectronics Reliability, no. 39, pp. 1143-1148, 1999.
Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004. Cité dans : [DATA204] fke, Institut für Festkörperelektronik (E362), 2000. Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999. Cité dans :[THESE090] S. MOREAU, Fiabilité environnementale des composants de puissance : le TRIAC, Thèse de Doctorat, soutenue le 17 mai 2005, 127 pages.Auteur : D. Pogany
Source : Microelectronics Reliability 39
Pages : 1143 - 1148
Date : 1999
Stockage : Thierry LEQUEU
Lien : private/FURBOCK2.pdf - 383 Ko, 6 pages.
Références : 11
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