C. FURBOCK, M. LITZENBERGER, D. POGANY, E. GORNIK, N. SELIGER, T. MULLER-LYNCH, M. STECHER, H. GOBßNER, W. WERNER, "Laser interferometric methode for ns-time scale thermal mapping of Smart Power ESD protection devices during ESD stress", Microelectronics

C. FURBOCK, M. LITZENBERGER, D. POGANY, E. GORNIK, N. SELIGER, T. MULLER-LYNCH, M. STECHER, H. GOBßNER, W. WERNER, "Laser interferometric methode for ns-time scale thermal mapping of Smart Power ESD protection devices during ESD stress", Microelectronics Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : C. FURBOCK, M. LITZENBERGER, D. POGANY, E. GORNIK, N. SELIGER, T. MULLER-LYNCH, M. STECHER, H. GOBßNER, W. WERNER, Laser interferometric methode for ns-time scale thermal mapping of Smart Power ESD protection devices during ESD stress, Microelectronics Reliability, no. 39, pp. 925-930, 1999.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Cité dans : [DATA204] fke, Institut für Festkörperelektronik (E362), 2000.
Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999.

Auteur : C. Fürböck
Auteur : M. Litzenberger
Auteur : D. Pogany
Auteur : E. Gornik
Auteur : N. Seliger
Auteur : T. Müller-Lynch,
Auteur : M. Stecher
Auteur : H. Goßner
Auteur : W. Werner

Source : Microel. Reliab. 39
Pages : 925 - 930
Date : 1999
Stockage : Thierry LEQUEU
Lien : private/FURBOCK1.pdf - 471 Ko, 6 pages.

Références : 14

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