R. F. Szeloch, T. P. Gotszalk, P. Janus, "Scanning Thermal Microscopy in Microsystem Reliability Analysis", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1719 - 1722
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Titre : R. F. Szeloch, T. P. Gotszalk, P. Janus, Scanning Thermal Microscopy in Microsystem Reliability Analysis, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1719 - 1722

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : R. F. Szeloch, T. P. Gotszalk and P. Janus

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-28
Pages : 1719 - 1722
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (1945 K)


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