M. Ciappa, F. Carbognani, P. Cova, W. Fichtner, "A Novel Thermomechanics - Based Lifetime Prediction Model for Cycle Fatigue Failure Mechanisms in Power Semiconductors", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1
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Titre : M. Ciappa, F. Carbognani, P. Cova, W. Fichtner, A Novel Thermomechanics - Based Lifetime Prediction Model for Cycle Fatigue Failure Mechanisms in Power Semiconductors, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1653 - 1658

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : M. Ciappa, F. Carbognani, P. Cova and W. Fichtner

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-27
Pages : 1653 - 1658
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (1300 K)


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