O. Crépel, C. Goupil, B. Domengès, P. Descamps, P. Perdu, A. Doukkali, "Magnetic field measurements for Non Destructive Failure Analysis", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1763 - 1766
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Titre : O. Crépel, C. Goupil, B. Domengès, P. Descamps, P. Perdu, A. Doukkali, Magnetic field measurements for Non Destructive Failure Analysis, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1763 - 1766

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : O. Crépel, C. Goupil, B. Domengès, P. Descamps, P. Perdu and A. Doukkali

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-29
Pages : 1763 - 1766
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (695 K)


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