P. JACOB, M. HELD, P. SCACCO, W. WU, "Reliability testing and analysis of IGBT power semiconductor modules", IEE proc. IGBT propulsion drives, London, pp. 4.1-4.5, 1995.
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Titre : P. JACOB, M. HELD, P. SCACCO, W. WU, Reliability testing and analysis of IGBT power semiconductor modules, IEE proc. IGBT propulsion drives, London, pp. 4.1-4.5, 1995.

Cité dans :[99DIV133] Recherche sur l'auteur Peter JACOB, juin 2000.
Cité dans : [CONF043] ISTFA, International Symposium for Testing and Failure Analysis et IEE proc. IGBT propulsion drives, London, mai 2002.
Cité dans :[SHEET359] P. JACOB, M. HELD, P. SCACCO, W. WU, Reliability testing and analysis of IGBT power semiconductor modules, Proceeding of the 20th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1994, pp. 319-325.
Cité dans :[SHEET119]
Cité dans :[SHEET140]
Cité dans :[SHEET120]
Auteur : Jacob P.
Auteur : Held M.
Auteur : Scacco P.
Auteur : Wu W.

Lien : SHEET119.HTM#Bibliographie - référence [12].
Lien : SHEET140.HTM#Bibliographie - référence [5].
Lien : SHEET120.HTM#Bibliographie - référence [5].
Stockage : Thierry LEQUEU, le 26 juin 2000.
Source : IEE proc. IGBT propulsion drives, London
Volume : 4
Pages : 1 - 5
Date : 1995

Références : 6

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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