P. ALOISI, "Failure diagnosis in medium power semiconductor", EPE'91, Firenze, vol. 3, pp. 117-119.
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Titre : P. ALOISI, Failure diagnosis in medium power semiconductor, EPE'91, Firenze, vol. 3, pp. 117-119.

Cité dans : [DIV138]  IAS'96, 1996 Annual Meeting - IEEE Industry Application Society , San Diego.
Cité dans :[99DIV125] Recherche sur l'auteur Pierre ALOISI, février 2000.
Cité dans : [DATA035] Recherche sur les mots clés thermal + fatigue + semiconductor et reliability + thermal + cycle, mars 2004.
Cité dans : [DIV334]  Recherche sur les mots clés power cycling of power device, mai 2002.
Cité dans :[PAP360]
Cité dans :[SHEET155]
Auteur : Pierre Aloisi, Motorola, Toulouse.

Lien : SHEET155.HTM#Bibliographie - référence [1]
Stockage : Thierry LEQUEU
Date : 1991
Source : EPE'91, Firenze
Volume : 3
Pages : 117 - 119
Keywords : FBSOA, RBSOA, avalanchez, thermal fatigue
References : 0


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 36 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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