N. Keskar, M. Trivedi and K. Shenai, "Device reliability and robust power converter development", Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1121-1130.
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Titre : N. Keskar, M. Trivedi and K. Shenai, Device reliability and robust power converter development, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1121-1130.

Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999.
Cité dans : [DATA196] ESREF'99, Proceedings of the 10th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis.
Auteur : N. Keskar
Auteur : M. Trivedi
Auteur : K. Shenai

Lien : private/KESKAR.pdf - 10 pages, 688 Ko.
Pages : 1121-1130
Volume : 39
Issues : 6-7
Date : June - July 1999


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 34 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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