S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, "Optical method for the measurement of the thermomechanical behaviour of electronic devices", Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 981-985.
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Titre : S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, Optical method for the measurement of the thermomechanical behaviour of electronic devices, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 981-985.

Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999.
Cité dans : [DATA196] ESREF'99, Proceedings of the 10th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis.
Cité dans :[ART273]
Auteur : S. Dilhaire
Auteur : S. Jorez
Auteur : A. Cornet
Auteur : E. Schaub
Auteur : W. Claeys

Lien : ART273.HTM#Bibliographie - référence [2].
Lien : private/DILHAIRE1.pdf - 5 pages, 406 Ko.
Source : Microelectronics Reliability
Pages : 981 - 985
Volume : 39
Issues : 6-7
Date : June - July 1999


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 34 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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