ESREF'2003, "14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis", du 6 au 10 octobre 2003.
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Fiche : [DIV365]

Titre : ESREF'2003, 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 6 au 10 octobre 2003.

Cité dans : [CONF016] ESREF, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis et Microelectronics and Reliability, décembre 2005.
Cité dans :[99DIV081] Dates des congrès sur les Convertisseurs Statiques, avril 2013.
Cité dans : [DATA147] IXL, Laboratoire IXL, Université de Bordeaux, Talence, France, http://www.ixl.u-bordeaux.fr

Lieu : Bordeaux - France
Résumé : 6 avril 2003 (contre 31 mars 2003) : résumé de 3 pages.
Notification : 28 mai 2003
Final_Paper : 27 juin 2003
Date : 6-10 octobre 2003
Lien : ESREF/2003/default.htm - le 3 avril 2003.
Lien : ESREF/2003/esref.htm - le 10 novembre 2002.
Site : http://www.esref.org
Site : http://www.ixl.u-bordeaux.fr

  [1] :  [ART558]  S. AZZOPARDI, E. WOIRGARD, J.-M. VINASSA, O. BRIAT, C. ZARDINI, IGBT Power modules thermal characterization : what is the optimum between a low current - high voltage or a high current - low voltage test condition for the same electrical power?, ESREF'2


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