Informations about "International SEMATECH, Inc", juin 2001.
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Rapport : [DIV230]

Titre : Informations about International SEMATECH, Inc, juin 2001.

Cité dans : [PAP285]  B.P. LINDER, J.H. STATHIS, D.J. FRANK, Calculating the Error in Long Term Oxide Reliability Estimates, IRPS'2001, pp.168-171.
Cité dans :[THESE092] L. ANGHEL, Les limites technologiques du silicium et tolérance aux fautes, le 15 décembre 2000, INPG, Grenoble.
Auteur : Thierry LEQUEU
Site : http://www.sematech.org


Recherche de juin 2001

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  [1] :  [PAP310]  R. BLISH, N. DURRANT, Semiconductor Device Reliability Failure Models, International SEMATECH, Technology Transfer # 00053955A-XFR, May 31, 2000, 34 pages.
  [2] :  [PAP297]  Semiconductor Industry Association. International Technology Roadmap for Semiconductors: 1999 edition. Austin, TX: International SEMATECH, 1999.


Recherche du 16 juin 2001

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Lien : 2578atr.pdf - 250 Ko, 40 pages, Metrology Roadmap: A Supplement to the National Technology Roadmap for Semiconductors.
Lien : 3448atr.pdf - 217 Ko, 66 pages, Overview of Quality and Reliability Issues in the National Technology Roadmap for Semiconductors.
Lien : private/SEM-DRT.pdf - 231 Ko, 29 pages, International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition, Defect Reduction.
Lien : private/SEM-MODL.pdf - 168 Ko, 20 pages, International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition, Modeling and Simulation.
Lien : private/SEM-ORTC.pdf - 206 Ko, 26 pages, International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition, Overall Reduction Technology & Glossary.
Lien : private/SEM-PIDS.pdf - 221 Ko, 25 pages, International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition, Process Integration, Devices and Structures.
Lien : private/SEM-TEST.pdf - 236 Ko, 28 pages, International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition, Test and Test Equipment.


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