Sebastiano Russo, Romeo Letor, Orazio Viscuso, Lucia Torrisi, Gianluigi Vitali, "Fast thermal fatigue on top metal layer of power devices", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1617 - 1622
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Titre : Sebastiano Russo, Romeo Letor, Orazio Viscuso, Lucia Torrisi, Gianluigi Vitali, Fast thermal fatigue on top metal layer of power devices, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1617 - 1622

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : Sebastiano Russo, Romeo Letor, Orazio Viscuso, Lucia Torrisi and Gianluigi Vitali

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-23
Pages : 1617 - 1622
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (2241 K)


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