A. Castellazzi, R. Kraus, N. Seliger, D. Schmitt - Landsiedel, "Reliability analysis of power MOSFET's with the help of compact models and circuit simulation", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1605 - 1610
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Titre : A. Castellazzi, R. Kraus, N. Seliger, D. Schmitt - Landsiedel, Reliability analysis of power MOSFET's with the help of compact models and circuit simulation, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1605 - 1610

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : A. Castellazzi, R. Kraus, N. Seliger and D. Schmitt - Landsiedel

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-21
Pages : 1605 - 1610
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (820 K)


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