L. Tielemans, R. Rongen, W. De Ceuninck, "How reliable are reliability tests?", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1339 - 1345
Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [ART324]

Titre : L. Tielemans, R. Rongen, W. De Ceuninck, How reliable are reliability tests?, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1339 - 1345

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : L. Tielemans, R. Rongen and W. De Ceuninck

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-12
Pages : 1339 - 1345
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (875 K)


Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 : TOP

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.