Michael Pecht, Diganta Das, Arun Ramakrishnan, "The IEEE standards on reliability program and reliability prediction methods for electronic equipment", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1259 - 1266
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Titre : Michael Pecht, Diganta Das, Arun Ramakrishnan, The IEEE standards on reliability program and reliability prediction methods for electronic equipment, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1259 - 1266

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : Michael Pecht, Diganta Das and Arun Ramakrishnan

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-11
Pages : 1259 - 1266
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (1084 K)


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