W. WU, M. HELD, P. JACOB, P. SCACCO, A. BIROLINI, "Investigation on the Long Term Reliability of Power IGBT Modules", Proc. ISPSD 95, pp. 443-448.
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Titre : W. WU, M. HELD, P. JACOB, P. SCACCO, A. BIROLINI, Investigation on the Long Term Reliability of Power IGBT Modules, Proc. ISPSD 95, pp. 443-448.

Cité dans :[PAP401]
Cité dans :[ART233]
Cité dans :[SHEET396]
Auteur : W. Wu
Auteur : M. Held
Auteur : P. Jacob
Auteur : P. Scacco
Auteur : A. Birolini

Lien : PAP401.HTM#Bibliographie - référence [6].
Lien : ART233.HTM#Bibliographie - référence [5].
Lien : SHEET396.HTM#Bibliographie - référence [5].

Source : Proc. ISPSD 95
Date : 1995
Pages : 443 - 448


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 31 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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