K. OHGA, "Failure analysis of bonding wires in power transistor modules", Proc. ISTFA, 237-247, Los Angles, USA, 1991.
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Article : [ART224]

Titre : K. OHGA, Failure analysis of bonding wires in power transistor modules, Proc. ISTFA, 237-247, Los Angles, USA, 1991.

Cité dans : [CONF043] ISTFA, International Symposium for Testing and Failure Analysis et IEE proc. IGBT propulsion drives, London, mai 2002.
Cité dans :[PAP404]
Auteur : K. Ohga

Lien : PAP404.HTM#Bibliographie - référence [1].
Switches : IGBT modules
Source : Proc. ISTFA, Los Angeles, USA.
Date : 1991
Pages : 237 - 247

Abstract :


Bibliographie

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References :


Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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