Y.B. XU, Y.Q. WU, X.Y. YANG, "A new mechanism of crack propagation in a single crystal silicon", Proc of the 8th inter conf on the mechanical behaviour of materials, vol. 1, pp. 279-282, 1999.

Y.B. XU, Y.Q. WU, X.Y. YANG, "A new mechanism of crack propagation in a single crystal silicon", Proc of the 8th inter conf on the mechanical behaviour of materials, vol. 1, pp. 279-282, 1999. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : Y.B. XU, Y.Q. WU, X.Y. YANG, A new mechanism of crack propagation in a single crystal silicon, Proc of the 8th inter conf on the mechanical behaviour of materials, vol. 1, pp. 279-282, 1999.

Cité dans :[THESE090] S. MOREAU, Fiabilité environnementale des composants de puissance : le TRIAC, Thèse de Doctorat, soutenue le 17 mai 2005, 127 pages.

Auteur : Y.B. Xu
Auteur : Y.Q. Wu
Auteur : X.Y. Yang

Stockage : Thierry LEQUEU (from S. FORSTER)
Source : Proc of the 8th inter conf on the mechanical behaviour of materials, vol.1
Pages : 279 - 282
Date : 1999

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