Richard C.Blish,II, J.Courtney Black, Ben Hui, Don T.Prince, "Technique for determining a prudent voltage stress to improve product quality and reliability"
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Titre : Richard C.Blish,II, J.Courtney Black, Ben Hui, Don T.Prince, Technique for determining a prudent voltage stress to improve product quality and reliability

Cité dans : [DATA126] ESREF'2000, 11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Dresden, Germany, 2-6 octobre 2000.
Auteur : Richard C.Blish, II
Auteur : J.Courtney Black
Auteur : Ben Hui
Auteur : Don T.Prince

Source : ESREF'2000, "11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis", Dresden, Germany.
Date : 2-6 octobre 2000
Stockage : Thierry LEQUEU
Pages : 1615 - 1618
Info : Vérification de la loi Gaussienne avec "inv CDF cume %" Cumulative Defect Function


Bibliographie

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Références : 2
[1] P. Tobias and D. Trindade, Applied Reliability (2 nd Edition). Van Nostrand Reinhold, New York, 1995.
[2] Elsayed, Reliability Engineering. Addison Wesley, MA, 1996.


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