D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, "Accelerated life tests for determining the life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes", IEEE Industry Applications Society 1972 Conference Record, pp. 89-92.
Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [SHEET205]

Titre : D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, Accelerated life tests for determining the life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes, IEEE Industry Applications Society 1972 Conference Record, pp. 89-92.

Cité dans : [DATA042] Recherche sur l'auteur Istvan SOMOS, mars 2000.
Cité dans :[SHEET169]
Cité dans :[SHEET204]
Cité dans :[SHEET268]
Auteur : Dante E. Piccone
Auteur : Istwan L. Somos, Somos Electra.

Lien : SHEET204.HTM - référence [3]
Source : IEEE Industry Applications Society 1972 Conference Record.
Année : 1972
Pages : 89 - 92
Stockage : Thierry LEQUEU, le 26 septembre 2001.
Références : 7

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 : TOP

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.