Article : [SHEET170]
Titre : R. ABID, F. MISEREY, Temperature non contact measurements on the surface of a GTO thyristor in commutation,EPE'95, septembre 1995, pp. 2.191-2.196
Cité dans : [DATA035] Recherche sur les mots clés thermal + fatigue + semiconductor et reliability + thermal + cycle, mars 2004. Cité dans : [DIV134] EPE'95, European Conference on POWER ELECTRONICS AND APPLICATIONS, Seville, Espagne, september 1995.Auteur : R. Abid
Lien : EPE/EPE_ct.txt
Stockage : Thierry LEQUEU
Source : EPE'95
Date : septembre 1995
Volume : 2
Pages : 191 - 196
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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