Department of Defense - United States of America, "MIL-STD-750D - Test Method Standard - Semiconductor devices", 4th edition, 28 February 1995.
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Fiche : [DIV445]

Titre : Department of Defense - United States of America, MIL-STD-750D - Test Method Standard - Semiconductor devices, 4th edition, 28 February 1995.

Cité dans :[99DIV041] Liste des normes de l'AFNOR, l'U.T.E., de l'ISO, de l'UIC, normes CEM, VDE et MIL STD, septembre 2008.
Cité dans :[PAP360]
Cité dans :[ART538]
Auteur : Department of Defense - United States of America

Info : Test Method Standard - Semiconductor devices - MIL-STD-750D
Edition : 4th
Date : 28 February 1995

- MIL STD 750D méthode 3151 (méthode générale)
- MIL STD 750D méthode 3101.2 (redresseurs)
- MIL STD 750D méthode 3181 (thyristors)


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 32 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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