E.A. HERR, A. FOX, J.S. READ, "PLASTIC ENCAPSULATED SIGNAL AND POWER TRANSISTOR RELIABILITY", IEEE 1974
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Article : [ART252]

Info : REPONSE 17, le 13/05/2002.

Titre : E.A. HERR, A. FOX, J.S. READ, PLASTIC ENCAPSULATED SIGNAL AND POWER TRANSISTOR RELIABILITY, IEEE 1974

Cité dans : [DATA240] Recherche sur l'auteur E. HERR, mai 2002.
Auteur : Herr, E.A. (GE, Syracuse, NY)
Auteur : Fox, A.
Auteur : Read, J.S.

Source : IEEE Trans Broadcast Telev Receivers v BTR-20 n 2 May 1974
Pages : 117 - 148
CODEN : IEETAP
Année : 1974
Language : English
Stockage :
Switches :
Power :
Software :

Abstract :
The results of accelerated testing of plastic encapsulated signal and
power transistors are summarized in this report. Also included is a
discussion on reliability prediction. Calculations of the expected
reliability under application conditions are shown for both signal and
power transistors. An Arrhenius model of response to stress was determined
for both types of transistors. The gain in reliability that can be
expected by derating to operating levels below device ratings is shown
quantitatively. A description is given of the procedures used to assure
the continued quality and reliability of these devices in production.

Références : 8 refs.

Accession_Number : 1974(8):4006 COMPENDEX


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 31 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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