Fiche : [DATA127]
Titre : ISE, Integrated Systems Engineering TCAD, version 6.0, 1995-1999.
Cité dans :[THESE121] S. MOREAU, Mécanismes de dégradation et fiabilité fonctionnelle des interrupteurs bidirectionnels tels que les TRIACs, rapport de DEA Génie Electrique de Grenoble, aout 2002. Cité dans : [DIV292] T. LEQUEU, Informations diverses sur la simulation et conception en électronique de puissance, novembre 2019. Cité dans : [DATA213] S. FORSTER, Mécanisme de fracture dans les matériaux fragiles et théorie du choc thermique, rapport interne, 8 novembre 2000, 13 pages. Cité dans :[SHEET348] S. FORSTER, T. LEQUEU, R. JERISIAN,A. HOFFMANN, 3-D analysis of the breakdown localized defects of ACSTM through a triac study, ESREF'2000, october 2000, pp. 1695-1700. Cité dans :[SHEET459] S. FORSTER, T. LEQUEU, R. JERISIAN, A. HOFFMANN, 3-D analysis of the breakdown localized defects of ACSTM through a triac study, Microelectronics Reliability, October 2000, Vol. 40, pp. 1695-1700.Auteur : ISE
Stockage : Bibliothèque LMP
Lien : SHEET348.HTM#Bibliographie - référence [3]
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 48 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
| Copyright 2023 : | |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.