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Expertise
Etudes Structurales
Propriétés Physiques
Microscopie électronique (MET et METHR), microscopie à 
    balayage et microscopie à force atomique

Diffraction et absorption (EXAFS et XANES) des rayons X 
    (rayonnement synchrotron : ESRF et LURE)

Diffusion inélastique et quasiélastique de neutrons
    Diffraction de neutrons (ILL, LLB)

 Propriétés diélectriques (constante diélectrique, vieillissement, 
    mesures de boucles (P,E), courants de fuite, courants 
    pyroélectriques)

Propriétés mécaniques (constantes élastiques et constantes 
    piézoélectriques)

Théorie - Modélisation

 
 
Dispositifs Expérimentaux
Propriétés Electriques
Propriétés Mécaniques
Propriétés Structurales et Microstructurales
Mesures diélectriques (spectromètres d'impédance)
Détails		 Dilatomètre capacitif
Détails

Dynamical Mechanical Analyser :
       - Mesures dilatométriques
       - Constantes élastiques
       - Constantes piézoélectriques
Détails

 Diffractomètre D5000 (Siemens)
    en géométrie Bragg-Brentano
    (fentes de Soller, monchromateur
    arrière, porte-échantillon tournant)
       - Etudes structurales fines
       - Analyse Rietveld
       - Analyses de profil de raies

Microscope électronique Philips EM400
    couplé à une analyse EDS (EDAX)

Microscope Electronique à Balayage 
   Philips XL30

Spectromètre IRTF RS Nucleus 
    Mattson/Unicam
       - Analyses en transmission et réflexion
         (température variable)
       - Analyse de gaz

Granulomètre Laser