E. MARTEAU, "Programmation sous LABVIEW d'un banc de mesure de TRIACs", avril-juin 2001.
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Stage : [THESE095]

Titre : E. MARTEAU, Programmation sous LABVIEW d'un banc de mesure de TRIACs, avril-juin 2001.

Cité dans : [DIV121]  Liste des rapports de stages IUT, DEA, P2I EIT, stages de fin d'études, avril 2013.
Cité dans : [DIV193]  Recherche sur le logiciel LABVIEW, août 2014.
Cité dans : [DIV331]  T. LEQUEU, Prog. 05 - AUTOTESTS / Logiciel de pilotage des platines de test des TRIACS - Programmation LABVIEW, Documentation de programmation, avril 2002.
Auteur : Eric MARTEAU - IUT GEII de TOURS

Stockage : Thierry LEQUEU


SOMMAIRE

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REMERCIEMENTS
INTRODUCTION
Partie I : Présentation de l'entreprise p.7
Partie II : Environnement du stage p.18
Partie III : Sujet du stage p.28
Partie IV : Analyse du programme p.44
CONCLUSION
GLOSSAIRE p.71
BIBLIOGRAPHIE p.72
ANNEXE 1 : Carte PCI-6503 p.73
ANNEXE 2 : Configuration du 8255 p.78
ANNEXE 3 : Fichier zip des librairies manquantes p.83
ANNEXE 4 : Interface graphique du programme p.85
ANNEXE 5 : Listing du programme p.87
RESUME, ABSTRACT p.109

Résumé :
La fonction principale du triac est sa commutation sur le réseau. Quand il commute sous une tension élevée, il apparaît une élévation brutale du courant d'anode (fort di/dt), cela produit des défaillances sur la structure du composant. Le Laboratoire de Microélectronique de Puissance ainsi que l’entreprise STMicroelectronics désirent approfondir la caractérisation des triacs en les soumettant à de nombreux tests.
Mon travail a consisté à réaliser à l’aide du logiciel LabVIEW, un programme permettant de lancer et contrôler le stress de triacs puis de les faire commuter vers un traceur 370A pour mesurer leurs caractéristiques. Par l'intermédiaire d'une interface graphique simple, on peut configurer des minuteries pour contrôler la durée de stress des composants et le programme gère la commutation de 126 relais répartis sur 3 platines commandés par une carte d'entrées/sorties (8255).

Abstract :
The principal function of the triac is its commutation on the network. When it commutates under a high voltage, there is sudden rise of the anode’s current (high di/dt) which produces failures on the component structure. The L.M.P and the STMicroelectronics company want to deepen the triac characterization, thus submitting them to many tests.
The aim was to realise with LabVIEW a program which permits to start and control the triac stress and to commute them toward a tracer 370A to measure their characteristics. Via a simple graphic interface, we can configure timers to control the duration of components stress and the program manages the commutation of 126 relays distributed on 3 platins controlled by in/out ports (8255).

Mots-clés : Informatique, LabVIEW, 8255, fiabilité, stress, triac, commutation, mesure


Bibliographie

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Références : 10
[1] : BEYON Jeffrey Y., LabVIEW programming data acquisition and analysis.
[2] : GALTIE Franck, LabVIEW initiation.
[3] : National Instrument, LabVIEW Manuel de l'utilisateur, juillet 1998.
[4] : National Instrument, LabVIEW Manuel de reference des VIs et des fonctions, juillet 1998.
[5] : National Instrument, LabVIEW Manuel d'acquisition de données, juillet 1998.
[6] : National Instrument, Manuel de référence de programmation en G, janvier 1998.
[7] : National Instrument, DAQ PCI-6503, mars 1998.
[8] : Intel, Documentation technique du 8255.
[9] : COANT Grégory, Rapport de stage (Limites de fonctionnement des triacs à la fermeture), juillet 1998.
[10] : FLORENCE Arnaud, Rapport de stage (Fiabilité des triacs), septembre 2000.

Sites Internet de National Instrument (Librairies manquantes et configuration 8255 sous Labview).
Site : http://zone.ni.com/devzone/devzoneweb.nsf/opendoc?openagent&2851D0A06E3185BC8625683A000AC730&cat=034E59A8530E09DF862568900018707A
Site : http://digital.ni.com/public.nsf/websearch/62790c9621f599cf8625659f0068e6e9

  [1] : [LIVRE235] J.Y. BEYON, Labview programming data acquisition and analysis, (with CD ROM), 08-2000, 342 pages.
  [2] :  [PAP158]  -------
  [3] : [LIVRE273] National Instrument, Manuel de l'utilisateur LabVIEW, juillet 1998.
  [4] : [LIVRE274] National Instrument, Manuel de référence des VIs et des fonctions LabVIEW, juillet 1998.
  [5] : [LIVRE275] National Instrument, Manuel de base d'acquisition de données LabVIEW, juillet 1998.
  [6] : [LIVRE276] National Instrument, Manuel de référence de programmation en G, juillet 1998.
  [7] : [LIVRE277] National Instrument, DAQ - PCI-DIO96/PXI-6508/PCI6503 - User Manual, march 1998.
  [8] :  [DIV126]  T. LEQUEU, Librairie des fichiers PDF de composants, janvier 2019.
  [9] : [THESE053] G. COANT, Limites de fonctionnement des triacs à la fermeture, EIVL, option Microélectronique de Puissance, février-juillet 1998.
 [10] : [THESE086] A. FLORENCE, Etude et réalisation d'un banc de caractérisation des triacs. Etude comparative de la fiabilité de composant issues des technologies MESA-GLASS et TOP GLASS, projet de fin d'études DESS Electronique de Puissance, avril-septembre 2000, 43 pa
Lien : DIV126.HTM#National_Instruments - revendeur Labview.
Lien : DIV126.HTM#Intersil_Harris_Semiconducteur - 8255.


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