F. RICHARDEAU, F. FOREST, "Problématiques, méthodologies et enjeux de la fiabilité en électronique de puissance", EPF'2000, pp. 353-358.
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Fiche : [SHEET532]

Titre : F. RICHARDEAU, F. FOREST, Problématiques, méthodologies et enjeux de la fiabilité en électronique de puissance, EPF'2000, pp. 353-358.

Cité dans : [DATA124] EPF'2000, Electronique de Puissance du Futur, Lille, 29 novembre - 1 décembre 2000.
Cité dans : [DIV052]  LEM, Laboratoire d'Électrotechnique de Montpellier, février 2002.
Cité dans : [DIV053]  Publications du LEM et thèses.
Auteur : Frédéric RICHARDEAU - (1) LEEI, Toulouse.
Auteur : François FOREST - (2) LEM, Montpellier.

(1) : Laboratoire d'Electrotechnique et d'Electronique Industrielle - ENSEEIHT / INP Toulouse 2, rue Carnichel BP7122 31071 Toulouse Cedex 7
Lien : mailto:richard@leei.enseeiht.fr
(2) : Laboratoire d'Electrotechnique de Montpellier - Université de Montpellier II case courrier 79 - place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier cedex 5
Site : http://www.lem.univ-montp2.fr

Stockage : Thierry LEQUEU
Pages : 353 - 358

Résumé : la fiabilité d'un convertisseur peut être traitée soit par une approche "composants" (qualité, intégration et commutation), soit par une approche "structurelle" (topologie, gestion des défauts potentielles). Les défaillances de semi-conducteurs à caractère quasi-aléatoire sont aujourd'hui très peu caractérisées dans notre domaine. Quelques tendances de paramètres influents comme la température et la tension aux bornes sont présentées. Un banc d'essai de fiabilité en cours de conception est également présenté suivi de quelques exemples d'application à la fiabilité prévisionnelle.


Bibliographie

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Références : 8
[1] : "Sûreté de fonctionnement des systèmes industriels", collection de la Direction des Etudes et Recherches d'Electricité de France, Alain Villemeur, 1988.
[2] : "Eléments d'analyse .prévisionnelle de la sûreté de fonctionnement -Application aux semiconducteurs de puissance", note interne LEEI, version du 2 septembre 99, F. Richardeau, Ph. Baudesson.
[3] : "Caractérisation du convertisseur multicellulaire série en présence de défauts de commutation", Ph. Baudesson, F. Richardeau, T. Meynard, congrès EPF 98- Belfort, pp. 129-134.
[4] : "Comportement de l'IGBT en régime extrême", M. Alnahar, thèse de l'ESIM-INPG, 1999.
[5] : "Etude de l'intégration d'une protection-fusible dans les convertisseurs IGBT", V .S. Duong, thèse de INPG, 1997.
[6] : "Fiabilité des modules IGBT de forte puissance - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction", G. Coquery, R. Lallemand, A. Hamidi, D. Wagner, EPF'96, Grenoble.
[7] : "Vieillissement des transistors bipolaires à grille isolée", A. Bouzourene, L. Humbert, G. Rojat, P.J. Viverge ", EPF'98, Belfort.
[8] : "Recueil de données de fiabilité des composants électroniques" (RDF), Centre national d'études des télécommunications, 1993.
  [1] :  [PAP158]  -------
  [2] :  [PAP158]  -------
  [3] :  [PAP349]  Ph. Baudesson, F. Richardeau, T. Meynard, Caractérisation du convertisseur multicellulaire série en présence de défauts de commutation EPF'98, pp. 129.
  [4] :  [PAP158]  -------
  [5] :  [PAP158]  -------
  [6] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.
  [7] :  [PAP158]  -------
  [8] :  [PAP158]  -------


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