M. Zmeck, T. Osipowicz, F. Watt, F. Niedernostheide, H.-J. Schulze, G.B.M. Fiege, L. Balk, "Analysis of high-power devices using proton beam induced currents"
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Titre : M. Zmeck, T. Osipowicz, F. Watt, F. Niedernostheide, H.-J. Schulze, G.B.M. Fiege, L. Balk, Analysis of high-power devices using proton beam induced currents

Cité dans : [DATA126] ESREF'2000, 11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Dresden, Germany, 2-6 octobre 2000.
Auteur : M. Zmeck
Auteur : T. Osipowicz
Auteur : F. Watt
Auteur : F. Niedernostheide
Auteur : H.-J. Schulze
Auteur : G.B.M. Fiege
Auteur : L. Balk

Source : ESREF'2000, "11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis", Dresden, Germany.
Date : 2-6 octobre 2000
Stockage : Thierry LEQUEU
Pages : 1413 - 1418
Info : EBIC et IBIC pour thyristor power device

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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