S. JANUSZEWSKI, M. KOCISZEWSKA-SZCZERBIK, E. STYPULKOWSKA, H. SWIATEK, G. SWIATEK, "Investigation of destroyed parts of surface of high power semiconductor devices in service conditions", Proceedings of the 6th European Symposium Reliability of Electron D
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Article : [SHEET284]

Titre : S. JANUSZEWSKI, M. KOCISZEWSKA-SZCZERBIK, E. STYPULKOWSKA, H. SWIATEK, G. SWIATEK, Investigation of destroyed parts of surface of high power semiconductor devices in service conditions, Proceedings of the 6th European Symposium Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis ESREF'95, Oct. 1995, France.

Cité dans : [CONF016] ESREF, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis et Microelectronics and Reliability, décembre 2005.
Cité dans : [DATA050] Recherche sur l'auteur S. JANUSZEWSKI
Cité dans :[SHEET155]
Auteur : Januszewski S.
Auteur : Kociszewska-Szczerbik M.
Auteur : Stypulkowska E.
Auteur : Swiatek H.
Auteur : Swiatek G.

Lien : SHEET155.HTM##Bibliographie - référence [14]
Source : Proceedings of the 6th European Symposium Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis ESREF'95
Date : Oct. 1995
Lieu : France
Stockage : Thierry LEQUEU (2 juin 2000).

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