C.G. Shirley, C.E.C. Hong, "Optimal Acceleration of Cyclic THB Tests for Plastic Packaged Devices", 91012.
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Article : [PAP427]

Titre : C.G. Shirley, C.E.C. Hong, Optimal Acceleration of Cyclic THB Tests for Plastic Packaged Devices, 91012.

Cité dans : [CONF024] IRPS, International Reliability Physics Symposium, août 2004.
Cité dans :[PAP360]
Auteur : Shirley, C.G.
Auteur : Hong, C.E.C., Intel Corp.

Site : http://www.irps.org
Lien : IRPS/SRI8597/term.pdf - 624 Ko, SECTION 2 - INDEX OF (EXTENDED) TERMS WITH PAPER TITLES - pp. 49-190

Acceleration model for cyclic THB test
Corrosion reliability model for cyclic THB test
Failure rate model for cyclic THB test
Optimal acceleration in cyclic THB test
Plastic IC acceleration model for cyclic THB test
Plastic IC reliability in cyclic THB test
Plastic defect-caused corrosion in cyclic THB test
Plastic defect-caused corrosion in cyclic THB test
Plastic defect-caused failures in cyclic THB test


Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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