Article : [PAP424]
Titre : F. JAUFFRET, TO220 SCR's and TRIACs reliability test conditions, Note d'application STMicroelectronics, janvier 1996.
Cité dans :[THESE109] Cité dans : [PAP360] T. LEQUEU, Les tests en fiabilité, rapport interne LMP, novembre 2001.Auteur : François JAUFFRET
Lien : THESE109.HTM#Bibliographie - référence [JAUF-96].
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