J. Altet, S. Dilhaire, J-M. Rampnoux, A. Rubio, S. Grauby, S. Jorez, L.D. Patino Lopez, W. Claeys, S. Volt, "Four Different Approaches for the Measurement of the IC Surface Temperature: Application to Thermal Testing", pp. 233-238, THERMINIC'2001
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Titre : J. Altet, S. Dilhaire, J-M. Rampnoux, A. Rubio, S. Grauby, S. Jorez, L.D. Patino Lopez, W. Claeys, S. Volt, Four Different Approaches for the Measurement of the IC Surface Temperature: Application to Thermal Testing, pp. 233-238, THERMINIC'2001

Cité dans : [DIV250]  THERMINIC'2001, Foreword thermal investigations of ICs and systems, Paris, France, 24-27 septembre 2001.
Auteur : J. Altet1, S. Dilhaire2, J-M. Rampnoux2, A. Rubio1, S. Grauby2, S. Jorez2, L.D. Patino Lopez2, W. Claeys2, S. Volt3
Adresse : 1U. Politècnica de Catalunya,Barcelona, Spain - 2CMOPH/U. Bordeaux I, Talence, France - 3Laboratory of Thermal Studies/ENSMA, Futuroscope, France
Pages : 233-238
Références : 12


Mise à jour le lundi 25 février 2019 à 15 h 34 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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