J.-L. MARTIN, G. AMAND, "Traité des matériaux volume 3 : caractérisation expérimentale II - analyse par rayons X, électrons et neutrons", Presses Polytechniques et Universitaires Romandes, janvier 1998.
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Fiche : [LIVRE055]

Titre : J.-L. MARTIN, G. AMAND, Traité des matériaux volume 3 : caractérisation expérimentale II - analyse par rayons X, électrons et neutrons, Presses Polytechniques et Universitaires Romandes, janvier 1998.

Cité dans : [DIV108]  Presses Polytechniques et Universitaires Romandes - TRAITÉ DES MATÉRIAUX
Auteur : Jean-Luc MARTIN
Auteur : George AMAND

Lien : Vol3.jpg - image, 18 ko.
Année : janvier 1998
Stockage : bibliothèque LMP
Matière : matériaux
Collection : TRAITÉ DES MATÉRIAUX
Pages : 1 374 pages
Format : 16X24 cm, relié.
ISBN : 2-88074-364-8
Prix : CHF 95.- ht, 96.90 ttc

Info. : Fiche N° LMP98-26b, Presses Polytechniques et Universitaires Romandes
Référence : Livre 9815/LMP
Date_d'achat : 12 juin 1998
Prix : 469.97 F

Vers : Sujet
Vers : Originalité
Vers : Public
Vers : Contenu

Vol3.jpg - 18 ko


Sujet

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Cet ouvrage décrit les principales méthodes de caractérisation microstructurale des matériaux fondées sur l'utilisation des
rayons X ou des faisceaux d'électrons ou de neutrons. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre
met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à
quelques micromètres, ce qui suffit généralement pour caractériser la morphologie et la répartition des différentes phases
en présence, ainsi que la nature, la densité et les arrangements des défauts cristallins étendus (dislocations, défauts
d'empilement). Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en
privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts (microscopie
électronique en transmission). Ayant donné les bases physiques des principales techniques expérimentales, ils précisent les
modalités de mise en oeuvre en décrivant les différents types d'appareillages utilisés. Pour chaque méthode, les avantages
et les limites sont discutés, et les performances illustrées à l'aide d'exemples.


Originalité

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L'accent est mis sur les développements récents qu_ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de
rayonnement optimisées, micro-électronique, techniques informatiques. Dans les chapitres consacrés à la caractérisation des
microstructures, l'étude des défauts cristallins est privilégiée. Des tableaux synthétiques rassemblent les avantages comparés
des techniques exposées et l'ouvrage est largement illustré.


Public

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Ce livre veut donner aux étudiants et aux ingénieurs un panorama assez complet des nombreuses techniques disponibles, avec
leurs capacités et mérites respectifs. Il n'entend pas se substituer aux ouvrages spécialisés, plus détaillés, reposant sur
une ou un groupe de méthode(s) particulière(s) mais il en facilite l'accès en expliquant, en termes aussi simples que possible
sans sacrifier à la rigueur indispensable, les bases essentielles.


Contenu

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PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIèRE: Généralités - Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux - Propagation
d'ondes dans les cristaux. CARACTéRISATION DES MATéRIAUX PAR RAYONS X: Sources de rayons X, conditionnement et analyse des
rayons X - Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X - Topographie aux rayons X.
Caractérisation des matériaux par faisceaux d'électrons: Microscope électronique à transmission - Informations fournies par le
microscope électronique à transmission - Microscope électronique à balayage - Microanalyse par faisceaux d'électrons.
Caractérisation des matériaux par faisceaux de neutrons: Diffusion et diffraction des neutrons.
Exemple de Caractérisation des matériaux par rayons X et électrons: Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par
projection thermique. Annexes: Distribution de Dirac, produit de convolution, série de Fourier, Transformation de Fourier.
Définition de l'angle solide. Liste des symboles, index.


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