ISE, "Integrated Systems Engineering TCAD", version 6.0, 1995-1999.
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Fiche : [DATA127]

Titre : ISE, Integrated Systems Engineering TCAD, version 6.0, 1995-1999.

Cité dans :[THESE121] S. MOREAU, Mécanismes de dégradation et fiabilité fonctionnelle des interrupteurs bidirectionnels tels que les TRIACs, rapport de DEA Génie Electrique de Grenoble, aout 2002.
Cité dans : [DIV292]  T. LEQUEU, Informations diverses sur la simulation et conception en électronique de puissance, juillet 2015.
Cité dans : [DATA213] S. FORSTER, Mécanisme de fracture dans les matériaux fragiles et théorie du choc thermique, rapport interne, 8 novembre 2000, 13 pages.
Cité dans :[SHEET348] S. FORSTER, T. LEQUEU, R. JERISIAN,A. HOFFMANN, 3-D analysis of the breakdown localized defects of ACSTM through a triac study, ESREF'2000, october 2000, pp. 1695-1700.
Cité dans :[SHEET459] S. FORSTER, T. LEQUEU, R. JERISIAN, A. HOFFMANN, 3-D analysis of the breakdown localized defects of ACSTM through a triac study, Microelectronics Reliability, October 2000, Vol. 40, pp. 1695-1700.
Auteur : ISE

Stockage : Bibliothèque LMP
Lien : SHEET348.HTM#Bibliographie - référence [3]


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