S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, "Optical method for the measurement of the thermomechanical behavior of electronic devices", Microelectronics Reliability, no. 39, 1999, pp. 981-985.

S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, "Optical method for the measurement of the thermomechanical behavior of electronic devices", Microelectronics Reliability, no. 39, 1999, pp. 981-985. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, Optical method for the measurement of the thermomechanical behavior of electronic devices, Microelectronics Reliability, no. 39, 1999, pp. 981-985.

Cité dans : [DATA147] IXL, Laboratoire IXL, Université de Bordeaux, Talence, France, http://www.ixl.u-bordeaux.fr

Auteur : S. DILHAIRE - (a)
Auteur : S. JOREZ - (a)
Auteur : A. CORNET - (b)
Auteur : E. SCHAUB - (a)
Auteur : W. CLAEYS - (a)

Adresse : (a) IXL Bordeaux
Adresse : (b) Unité Fyam - Université de Louvain, B1348 Louvain-La-Neuve, Belgium.

Stockage : Thierry LEQUEU (from Z. Khatir).
Source : Microelectronics Reliability, no. 39.
Année : 1999
Pages : 981 - 985

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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