A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, "Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles", Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.

A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, "Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles", Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.

Cité dans : [DATA146] LTN, Laboratoire des Technologies Nouvelles, INRETS, Arcueil, France.
Cité dans : [DIV063]  EPE'97, European Conference on POWER ELECTRONICS AND APPLICATIONS, Trondheim, Norvège, septembre 1997.
Cité dans :[SHEET120]
Cité dans :[SHEET140]
Cité dans :[SHEET119]
Cité dans :[ART185]
Cité dans :[SHEET361]
Cité dans :[PAP401]

Auteur : A. Hamidi
Auteur : G. Coquery
Auteur : R. Lallemand - New Technologies Laboratory, INRETS LTN, France

Vers : Bibliographie
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Lien : SHEET140.HTM#Bibliographie - référence [4].
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Lien : SHEET361.HTM#Bibliographie - référence [3].
Lien : PAP401.HTM#Bibliographie - référence [3].

Stockage : Thierry LEQUEU
Source : Proc. of EPE Conf., Trondheim,
Date : September 1997
Volume : 3
Pages : 118 - 123
Labo. : LTN
Switches : IGBT modules
Lien : private/HAMIDI.pdf - pages, Ko.

Abstract :

Bibliographie

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