P. DONDON, J. LAURIOU, C. ZARDINI, "Thermal transient characterization of electronic assemblies by infrared thermography in fast line scan mode", THERMINIC'95.
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Titre : P. DONDON, J. LAURIOU, C. ZARDINI, Thermal transient characterization of electronic assemblies by infrared thermography in fast line scan mode, THERMINIC'95.

Cité dans : [DATA147] IXL, Laboratoire IXL, Université de Bordeaux, Talence, France, http://www.ixl.u-bordeaux.fr
Cité dans : [DIV289]  Recherche sur l'auteur Christian ZARDINI, juillet 2004.
Auteur : P. Dondon
Auteur : J. Lauriou
Auteur : C. Zardini - IXL, Talence, France

Congrès : 1st International Workshop on THERMAL INVESTIGATIONS of ICs and SYSTEMS
Date : 25-26 September 1995
Lieu : Grenoble, France

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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