K. Shenai, "High-Power Robust Semiconductor Electronics Technologies in the New Millennium", pp. 0-0, THERMINIC'2001

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Titre : K. Shenai, High-Power Robust Semiconductor Electronics Technologies in the New Millennium, pp. 0-0, THERMINIC'2001

Cité dans : [DIV250]  THERMINIC'2001, Foreword thermal investigations of ICs and systems, Paris, France, 24-27 septembre 2001.
Cité dans : [DIV293]  Recherche sur l'auteur Krishna SHENAI, mars 2004.
Cité dans : [DATA035] Recherche sur les mots clés thermal + fatigue + semiconductor et reliability + thermal + cycle, mars 2004.
Cité dans : [ART513]  K. SHENAI, High-power robust semiconductor electronics technologies in the new millennium, Microelectronics Journal, Vol. 32, No. 5-6, May 2001, pp. 397-408.

Auteur : K. Shenai
Adresse : U. of Illinois, Chicago, USA
Pages : 0-0
Références : 0

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