Fiche : [DIV366]

Titre : Recherche sur l'auteur Kristof CROES, octobre 2002.

Cité dans : [DIV096]  Recherches bibliographiques diverses, janvier 2019.

Adresse : 2002 : XPEQT, Transportstraat 1, 3980 Tessenderlo, Belgium
Lien : mailto:krc@xpeqt.com
Site : http://www.xpeqt.com
Adresse : 1998 : Limburgs Universitair Centrum, Institute for Materials Research, Materials Physics Division, Universitaire Campus, Wetenschapspark 1, 3590 Diepenbeek, Belgium

Recherche maison du 11 octobre 2002

  [1] : [THESE126] K. CROES, Statistical techniques for planning type I singly censored reliability experiments with two stress factors, Phd Thesis, Limburg University Center, 1999.
  [2] :  [PAP396]  K. CROES, J. V. MANCA, W. DE CEUNINCK, L. DE SCHEPPER, G. MOLENBERGHS, The time of guessing your failure time distribution is over!, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1187-1191.
  [3] :  [PAP432]  J.V. MANCA, W. WONDRAK, W. SCHAPER, K. CROES, J. D’HAEN, W. DE CEUNINCK, B. DIEVAL, H.L. HARTNAGEL, M. D’OLIESLAEGER, L. DE SCHEPPER, Reliability aspects of high temperature power MOSFETs, ESREF'2000.
  [4] :  [ART305]  K. CROES, Error Calculation During Reliability Experiments, Tutorial 4, ESREF'2002, Rimini, Italie, October 7-11, 2002.

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