LTN, "Laboratoire des Technologies Nouvelles", INRETS, Arcueil, France.
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Fiche : [DATA146]

Titre : LTN, Laboratoire des Technologies Nouvelles, INRETS, Arcueil, France.

Cité dans : [DIV075]  Liste d'Ecoles et de Laboratoires de Recherches, décembre 2008.
Directeur : COQUERY Gérard
Lien : "mailto:gerard.coquery@inrets.fr"

Egalement : Richard Lallemand
Lien : "mailto:richard.lallemand@inrets.fr"

Egalement : Zoubir Khatir
Lien : "mailto:zoubir.khatir@inrets.fr"

Vers : Publications de l'année 2000
Vers : Publications de G. COQUERY
Vers : Publications de R. LALLEMAND
Vers : Publications de Z. KHATIR
Vers : Publications de A. HAMIDI

Adresse : 2, Avenue du Général Malleret-Joinville F-94114 ARCUEIL CEDEX
Tél : 33 (0)1 47 40 73 30 / +33-1 4740 7342
Fax : (0)33 1 45 47 56 06
Site : http://www.inrets.fr/ur/ltn/ltn.html
Site : http://www.inrets.fr

Sommaire :
L'activité du LTN est consacrée à la recherche appliquée aux transports guidés dans le domaine des technologies de
traction-sustentation-guidage. Les domaines concernés sont plus précisémment la dynamique ferroviaire et l'électronique
de puissance.

Dans les domaines de l'électrotechnique et l'électronique de puissance, le LTN a créé trois laboratoires :
(La roue de Grenoble, le laboratoire GTO et IGTB, le laboratoire des simillitudes et d'électrotechnique) dont les
équipements sont à la disposition d'une équipe d'une dizaine de personnes.

Theme : La dynamique ferroviaire : recherches et coopérations
Theme : L'électrotechnique et électronique de puissance : recherches, modélisation, essais
Info : Le LTN dans le programme INRETS 1999


Publications de l'année 2001

TOP

  [1] :  [PAP372]  G. COQUERY, S. CARUBELLI, J.P. OUSTEN, R. LALLEMAND, F. LECOQ, D. LHOTELLIER, V. DE VIRY, PH. DUPUY, Power module lifetime estimation from chip temperature direct measurement in an automotive traction inverter, ESREF'2001, pp. 1695-1700
  [2] :  [ART170]  A. JEUNESSE, P. LAUPRETE, J. MULLER, G. COQUERY, R. LALLEMAND, J. P. OUSTEN, Mise en oeuvre de module IGBT sur les onduleurs auxiliaires des motrices TGV, La revue 3E.I, N°24, mars 2001, pp. 41-51.

Publications de l'année 2000

TOP

  [1] :  [ART171]  R. LALLEMAND, G. COQUERY, P. LAUPRETE, A. JEUNESSE, J. MULLER, Application des modules IGBT au traitement d'obsolescence des GTO dans les onduleurs auxiliaires du TGV A. Amélioration de la fiabilité, EPF'2000, 29 nov./1dec. 2000, Lille, France, pp. 157-
  [2] : [SHEET531] Z. KHATIR, S. LEFEBVRE, Analyse thermo-mécanique de composants semi-conducteur de puissance à l'aide des éléments de frontière, EPF'2000
  [3] : [SHEET533] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Durée de vie des modules IGBT pour la traction ferroviaire. Apport de la technologie AlSiC. Critères de défaillance, méthodologie, normalisation, EPF'2000, 4 pages.
  [4] : [SHEET516] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Failure criteria for long term Accelerated Power Cycling Test linked to electrical turn off SOA on IGBT module. A 4000 hours test on 1200A-3300V module with AlSiC base plate, ESREF'2000, pp. 1665-1670.
  [5] : [SHEET388] Z. KHATIR, Nouveaux procédés d'alimentation électrique par le sol des systèmes de transports urbains, REE, no 6, juin 2000, pp. 61-67.
  [6] : [SHEET355] Z. KHATIR, S. LEFEBVRE, Thermal analysis of high power IGBT modules, ISPSD'2000, Toulouse, France, May 22-25, 2000, pp. 271-274.

Publications de l'année 1999

TOP

  [1] : [SHEET119] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, M. PITON, H. BERG, K. SOMMER, Reliability improvement of the soldering thermal fatigue with AlSiC technology on traction high power IGBT modules, EPE'99, paper 904, 1999.
  [2] : [SHEET361] A. HAMIDI, N. BECK, K. THOMAS, E. HERR, Reliability and lifetime evaluation of different wire bonding technologies for high power IGBT modules, ESREF'99.

Publications de l'année 1998

TOP

Lien : ltn_aut.pdf - 267 Ko, 6 pages.
Lien : ltn1998.pdf - 567 Ko, 14 pages.
  [1] : [THESE087] A. HAMIDI, Contribution à l'étude des phénomènes de fatigue thermique des modules IGBT de forte puissance destinés aux applications de traction, juin 1998, Thèse de doctorat en Génie Electrique de l'INPL., préparée et soutenue à l'INRETS LTN, Arcueil.
  [2] : [SHEET120] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, ESREF'98, Reliability of Power Devices, Copenhague, 9
  [3] : [SHEET140] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, Microelectronics and Reliability, vol. 38, no. 6-8, J
  [4] : [SHEET357] G. COQUERY, Les modules IGBT de forte puissance. Leur essor dans les applications de traction ferroviaire, REE no. 9, pp. 52-59, Octobre 1998, Paris.
  [5] : [SHEET360] A. HAMIDI, G. COQUERY, Contact temperature measurements on chip  surface for reliability investigations of high power IGBT modules in traction applications, 3rd Europ. Conf. On Electronic Packaging Technology, EUPAC'98, Nuremberg, juin 1998, 9 pages.
  [6] : [SHEET377] SIMEDUC: an educational simulation tool for power semiconductor devices.
  [7] : [SHEET391] Z. KHATIR, Implémentation de modèles physiques de composants de très forte puissance dans le logiciel Saber, EPF'98, pp. 143-148.

Publications de l'année 1997

TOP

  [1] : [SHEET122] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.
  [2] : [SHEET356] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,
  [3] : [SHEET362] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, Microelectronics and Reliability, vol. 37, no. 10-11, Oct-Nov, 1997, pp. 1755-1758.

Publications de l'année 1996

TOP

  [1] : [SHEET373] Experimental and numerical analysis of GTO's snubberless turn-off operations.
  [2] : [SHEET389] A. HAMIDI, R. LALLEMMAND, G. COQUERY, P. CAROFF, Réalisation d'une alimentation isolée pour déclencheurs GTO montés en série, dans une application de très haute tension, EPF'96, pp. 205-210.
  [3] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.

Publications de l'année 1995

TOP

  [1] : [SHEET121] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, P. GIBARD, Reliability of the 400 A IGBT modules for traction converters. Contribution on the power thermal fatigue influence on life expancy, EPE'95, vol. 1, pp. 60-65.
  [2] : [SHEET371] Experimental and numerical investigations on a hard GTO turn-on process.

Publications de l'année 1994

TOP

  [1] : [SHEET368] Influence of the gate drive on avalanche process in GTO's snubberless turn-off operations.
  [2] : [SHEET372] Main technological causes and some mechanisms of high power GTO's failures

Publications de l'année 1993

TOP

  [1] : [SHEET363] GTO chopper at 2000 Hz switching frequency for a DC current source 1000 A -1200V.
  [2] : [SHEET375] Charge injection control (CIC) diodes: an original concept to improve fast power rectifiers.

Publications de l'année 1992

TOP

  [1] : [SHEET367] High-power components, the GTO thyristor.

Publications de l'année 1991

TOP

  [1] : [SHEET366] An accurate one-dimensional model for the analysis of the turn-off performance of anode shorted GTO thyristors.

Publications de l'année 1990

TOP

  [1] :  [PAP158]  -------

Publications de l'année 1989

TOP

  [1] :  [PAP158]  -------

Publications de l'année 1988

TOP

  [1] : [THESE088] Z. KHATIR, Etude de l'ouverture des thyristors GTO de forte puissance : aide à leur conception et à leur utilisation, Thèse de Doctorat d'état, 1988, 123 pages, 26 refs.
  [2] : [SHEET364] Increasing frequency using GTO in gate-assisted-turn-off mode.
  [3] : [SHEET365] Direct cooling for big GTOs. (power thyristors).
  [4] : [SHEET376] Computer-aided investigation of the turn-off performance of G.T.O. thyristors.

Publications de l'année 1987

TOP

  [1] : [SHEET374] Comparison of three 4500 V-2500 A GTO.

Publications de l'année 1986

TOP

  [1] : [SHEET369] Influence of the impedance of the gate trigger on the maximum current turn-off capability of a GTO.

Publications de l'année 1981

TOP

  [1] : [SHEET370] Magnetic levitation: first similarity tests at Vitry Laboratory.


Publications de G. COQUERY

TOP

Date : 17 juin 2000
Lien : GC_cpdx.htm - 6 dans COMPENDEX
Lien : GC_insp.htm - 12 dans INSPEC
  [1] : [99DIV132] Recherche sur l'auteur Gérard COQUERY, juin 2004.
  [2] :  [ART170]  A. JEUNESSE, P. LAUPRETE, J. MULLER, G. COQUERY, R. LALLEMAND, J. P. OUSTEN, Mise en oeuvre de module IGBT sur les onduleurs auxiliaires des motrices TGV, La revue 3E.I, N°24, mars 2001, pp. 41-51.
  [3] :  [ART171]  R. LALLEMAND, G. COQUERY, P. LAUPRETE, A. JEUNESSE, J. MULLER, Application des modules IGBT au traitement d'obsolescence des GTO dans les onduleurs auxiliaires du TGV A. Amélioration de la fiabilité, EPF'2000, 29 nov./1dec. 2000, Lille, France, pp. 157-
  [4] :  [PAP372]  G. COQUERY, S. CARUBELLI, J.P. OUSTEN, R. LALLEMAND, F. LECOQ, D. LHOTELLIER, V. DE VIRY, PH. DUPUY, Power module lifetime estimation from chip temperature direct measurement in an automotive traction inverter, ESREF'2001, pp. 1695-1700
  [5] : [SHEET533] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Durée de vie des modules IGBT pour la traction ferroviaire. Apport de la technologie AlSiC. Critères de défaillance, méthodologie, normalisation, EPF'2000, 4 pages.
  [6] : [SHEET516] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Failure criteria for long term Accelerated Power Cycling Test linked to electrical turn off SOA on IGBT module. A 4000 hours test on 1200A-3300V module with AlSiC base plate, ESREF'2000, pp. 1665-1670.
  [7] : [SHEET119] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, M. PITON, H. BERG, K. SOMMER, Reliability improvement of the soldering thermal fatigue with AlSiC technology on traction high power IGBT modules, EPE'99, paper 904, 1999.
  [8] : [SHEET357] G. COQUERY, Les modules IGBT de forte puissance. Leur essor dans les applications de traction ferroviaire, REE no. 9, pp. 52-59, Octobre 1998, Paris.
  [9] : [SHEET122] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.
 [10] : [SHEET360] A. HAMIDI, G. COQUERY, Contact temperature measurements on chip  surface for reliability investigations of high power IGBT modules in traction applications, 3rd Europ. Conf. On Electronic Packaging Technology, EUPAC'98, Nuremberg, juin 1998, 9 pages.
 [11] : [SHEET120] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, ESREF'98, Reliability of Power Devices, Copenhague, 9
 [12] : [SHEET140] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, Microelectronics and Reliability, vol. 38, no. 6-8, J
 [13] : [SHEET356] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,
 [14] : [SHEET389] A. HAMIDI, R. LALLEMMAND, G. COQUERY, P. CAROFF, Réalisation d'une alimentation isolée pour déclencheurs GTO montés en série, dans une application de très haute tension, EPF'96, pp. 205-210.
 [15] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.
 [16] : [SHEET121] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, P. GIBARD, Reliability of the 400 A IGBT modules for traction converters. Contribution on the power thermal fatigue influence on life expancy, EPE'95, vol. 1, pp. 60-65.
 [17] : [SHEET363] GTO chopper at 2000 Hz switching frequency for a DC current source 1000 A -1200V.
 [18] : [SHEET367] High-power components, the GTO thyristor.
 [19] : [SHEET365] Direct cooling for big GTOs. (power thyristors).
 [20] : [SHEET364] Increasing frequency using GTO in gate-assisted-turn-off mode.
 [21] : [SHEET365] Direct cooling for big GTOs. (power thyristors).
 [22] : [SHEET369] Influence of the impedance of the gate trigger on the maximum current turn-off capability of a GTO.
 [23] : [SHEET370] Magnetic levitation: first similarity tests at Vitry Laboratory.


Publications de R. LALLEMAND

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Date : 17 juin 2000
Lien : RL_cpdx.htm - 4 dans COMPENDEX
Lien : RL_insp.htm - 10 dans INSPEC
  [1] :  [ART170]  A. JEUNESSE, P. LAUPRETE, J. MULLER, G. COQUERY, R. LALLEMAND, J. P. OUSTEN, Mise en oeuvre de module IGBT sur les onduleurs auxiliaires des motrices TGV, La revue 3E.I, N°24, mars 2001, pp. 41-51.
  [2] :  [ART171]  R. LALLEMAND, G. COQUERY, P. LAUPRETE, A. JEUNESSE, J. MULLER, Application des modules IGBT au traitement d'obsolescence des GTO dans les onduleurs auxiliaires du TGV A. Amélioration de la fiabilité, EPF'2000, 29 nov./1dec. 2000, Lille, France, pp. 157-
  [3] :  [PAP372]  G. COQUERY, S. CARUBELLI, J.P. OUSTEN, R. LALLEMAND, F. LECOQ, D. LHOTELLIER, V. DE VIRY, PH. DUPUY, Power module lifetime estimation from chip temperature direct measurement in an automotive traction inverter, ESREF'2001, pp. 1695-1700
  [4] : [SHEET533] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Durée de vie des modules IGBT pour la traction ferroviaire. Apport de la technologie AlSiC. Critères de défaillance, méthodologie, normalisation, EPF'2000, 4 pages.
  [5] : [SHEET516] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Failure criteria for long term Accelerated Power Cycling Test linked to electrical turn off SOA on IGBT module. A 4000 hours test on 1200A-3300V module with AlSiC base plate, ESREF'2000, pp. 1665-1670.
  [6] : [SHEET119] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, M. PITON, H. BERG, K. SOMMER, Reliability improvement of the soldering thermal fatigue with AlSiC technology on traction high power IGBT modules, EPE'99, paper 904, 1999.
  [7] : [SHEET122] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.
  [8] : [SHEET120] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, ESREF'98, Reliability of Power Devices, Copenhague, 9
  [9] : [SHEET140] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, Microelectronics and Reliability, vol. 38, no. 6-8, J
 [10] : [SHEET356] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,
 [11] : [SHEET389] A. HAMIDI, R. LALLEMMAND, G. COQUERY, P. CAROFF, Réalisation d'une alimentation isolée pour déclencheurs GTO montés en série, dans une application de très haute tension, EPF'96, pp. 205-210.
 [12] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.
 [13] : [SHEET371] Experimental and numerical investigations on a hard GTO turn-on process.
 [14] : [SHEET121] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, P. GIBARD, Reliability of the 400 A IGBT modules for traction converters. Contribution on the power thermal fatigue influence on life expancy, EPE'95, vol. 1, pp. 60-65.
 [15] : [SHEET372] Main technological causes and some mechanisms of high power GTO's failures
 [16] : [SHEET363] GTO chopper at 2000 Hz switching frequency for a DC current source 1000 A -1200V.
 [17] : [SHEET366] An accurate one-dimensional model for the analysis of the turn-off performance of anode shorted GTO thyristors.
 [18] : [SHEET374] Comparison of three 4500 V-2500 A GTO.
 [19] : [SHEET364] Increasing frequency using GTO in gate-assisted-turn-off mode.
 [20] : [SHEET369] Influence of the impedance of the gate trigger on the maximum current turn-off capability of a GTO.


Publications de Z. KHATIR

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Date : 17 juin 2000
Lien : ZK_cpdx.htm - 4 dans COMPENDEX
Lien : ZK_insp.htm - 9 dans INSPEC
Info : Zoubir KHATIR a obtenu un diplôme d'ingénieur en Génie Physique du Solide de l'Institut
National des Sciences Appliquées de Toulouse en 1984 et a poursuivi des recherches sur les composants
semi-conducteurs de puissance au LAAS-CNRS où il obtint un doctorat en électronique de l'INSA en 1988.
Actuellement chercheur au Laboratoire des Technologies Nouvelles (LTN) de l'institut National de
Recherche sur les Transports et leur Sécurité (INRETS), il consacre ses travaux aux dispositifs de
l'électronique de puissance dans le domaine des transports.
  [1] : [SHEET388] Z. KHATIR, Nouveaux procédés d'alimentation électrique par le sol des systèmes de transports urbains, REE, no 6, juin 2000, pp. 61-67.
  [2] : [SHEET355] Z. KHATIR, S. LEFEBVRE, Thermal analysis of high power IGBT modules, ISPSD'2000, Toulouse, France, May 22-25, 2000, pp. 271-274.
  [3] : [SHEET391] Z. KHATIR, Implémentation de modèles physiques de composants de très forte puissance dans le logiciel Saber, EPF'98, pp. 143-148.
  [4] : [SHEET377] SIMEDUC: an educational simulation tool for power semiconductor devices.
  [5] : [SHEET371] Experimental and numerical investigations on a hard GTO turn-on process.
  [6] : [SHEET373] Experimental and numerical analysis of GTO's snubberless turn-off operations.
  [7] : [SHEET368] Influence of the gate drive on avalanche process in GTO's snubberless turn-off operations.
  [8] : [SHEET372] Main technological causes and some mechanisms of high power GTO's failures
  [9] : [SHEET375] Charge injection control (CIC) diodes: an original concept to improve fast power rectifiers.
 [10] : [SHEET366] An accurate one-dimensional model for the analysis of the turn-off performance of anode shorted GTO thyristors.
 [11] : [SHEET378] Simulation of GTO thyristors turn-off,
 [12] : [SHEET376] Computer-aided investigation of the turn-off performance of G.T.O. thyristors.
 [13] : [THESE088] Z. KHATIR, Etude de l'ouverture des thyristors GTO de forte puissance : aide à leur conception et à leur utilisation, Thèse de Doctorat d'état, 1988, 123 pages, 26 refs.
 [14] : [SHEET531] Z. KHATIR, S. LEFEBVRE, Analyse thermo-mécanique de composants semi-conducteur de puissance à l'aide des éléments de frontière, EPF'2000
 [15] :  [ART545]  Z. KHATIR, S. LEFEBVRE, Boundary element analysis of thermal fatigue effects on high power IGBT modules, Microelectronics Reliability, Vol. 44, No. 6, pp. 889-1029, June 2004.


Publications de A. HAMIDI

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Date : 17 juin 2000
Lien : AH_cpdx.htm - 18 dans COMPENDEX
Lien : AH_insp.htm - 13 dans INSPEC
Site : http://www.inrets.fr - Recherche par auteur HAMIDI :
Lien : hamidi.txt

  [1] : [THESE087] A. HAMIDI, Contribution à l'étude des phénomènes de fatigue thermique des modules IGBT de forte puissance destinés aux applications de traction, juin 1998, Thèse de doctorat en Génie Electrique de l'INPL., préparée et soutenue à l'INRETS LTN, Arcueil.
  [2] : [SHEET361] A. HAMIDI, N. BECK, K. THOMAS, E. HERR, Reliability and lifetime evaluation of different wire bonding technologies for high power IGBT modules, ESREF'99.
  [3] : [SHEET122] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.
  [4] : [SHEET360] A. HAMIDI, G. COQUERY, Contact temperature measurements on chip  surface for reliability investigations of high power IGBT modules in traction applications, 3rd Europ. Conf. On Electronic Packaging Technology, EUPAC'98, Nuremberg, juin 1998, 9 pages.
  [5] : [SHEET120] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, ESREF'98, Reliability of Power Devices, Copenhague, 9
  [6] : [SHEET140] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, Microelectronics and Reliability, vol. 38, no. 6-8, J
  [7] : [SHEET356] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,
  [8] : [SHEET362] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, Microelectronics and Reliability, vol. 37, no. 10-11, Oct-Nov, 1997, pp. 1755-1758.
  [9] : [SHEET389] A. HAMIDI, R. LALLEMMAND, G. COQUERY, P. CAROFF, Réalisation d'une alimentation isolée pour déclencheurs GTO montés en série, dans une application de très haute tension, EPF'96, pp. 205-210.
 [10] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.


Mise à jour le jeudi 19 septembre 2013 à 08 h 12 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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