E.A. HERR, A. FOX, "Reliability of epoxy transistors", IEEE 1969.
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Article : [ART244]

Info : REPONSE 22, le 13/05/2002.

Titre : E.A. HERR, A. FOX, Reliability of epoxy transistors, IEEE 1969.

Cité dans : [DATA240] Recherche sur l'auteur E. HERR, mai 2002.
Auteur : Herr, E.A.
Auteur : Fox, A. (General Electric Co., Syracuse, NY, USA)

Source : Proceedings 1969 annual symposium on reliability New York, NY, USA: IEEE, 1969.
Pages : 202 - 210 of 654pp.
Conference : Chicago, IL, USA
Date : 21-23 Jan 1969
Sponsor(s) : IEEE IES ASNT ASQC
Info : Country of Publication : United States
Language : English
Stockage :
Switches :
Power :
Software :

Abstract :
Reviews the information obtained from a series of long term maximum
rated life tests as well as accelerated tests on several product families
of epoxy encapsulated transistors. The trend in the capability of epoxy
devices to withstand high level qualification tests is outlined and
projections are made for the future growth in the use of plastic
encapsulated devices.

Accession_Number : 1969:55077 INSPEC


Mise à jour le jeudi 19 septembre 2013 à 08 h 12 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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