"High pulse power failure of discrete resistors", 1975.
Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [ART221]

Info : REPONSE 89, le 06/05/2002.

Titre : High pulse power failure of discrete resistors, 1975.

Cité dans : [DIV334]  Recherche sur les mots clés power cycling of power device, mai 2002.
Auteur : Domingos, H. (Dept. of Electrical Engng., Clarkson Coll. of Technol., Potsdam, NY, USA)
Auteur : Wunsch, D.C.

Source : IEEE Transactions on Parts, Hybrids and Packaging (Sept. 1975) vol.PHP-11, no.3, p.225-9. 2 refs.
CODEN : IEPHAA
ISSN : 0361-1000
Document_Type : Journal
Treatment_Code : Application; Theoretical; Experimental
Info : Country of Publication : United States
Language : English
Stockage :

Abstract :
Theoretical and experimental studies have been conducted on discrete
resistors to determine the power required to cause failure as a function
of pulse width over the range 1 mu s to 10 ms. Single pulses of increasing
amplitude were applied until voltage breakdown occurred, the resistor
shattered, or until a resistance change of 5% or more took place. Carbon
composition (both slug and film type), wire-wound (both precision and
power type) and film resistors were tested. Computer calculations,
temperature cycling tests, and field plots were utilized to interpret the
results.

Accession_Number : 1975:827024 INSPEC


Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 : TOP

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.